引線鍵合作為芯片鍵合的下道工序，是確保電信號傳輸?shù)囊粋€過程。引線鍵合是最常見一種鍵合方式。這種封裝方式是最早出現(xiàn)的，雖然是第一代技術(shù)，但是直到現(xiàn)在也有很多芯片使用這種方式來封裝，就是因為技術(shù)成熟，成本低。近年來半導體產(chǎn)業(yè)對更高的集成度、更高的可靠性和更低的成本等方面的迫切需求，對引線鍵合技術(shù)提出了更高的要求，因此引線鍵合的質(zhì)量檢測成為了保證半導體封裝質(zhì)量的關(guān)鍵技術(shù)。本文詳細闡述引線鍵合中強度試驗推拉力機的測試方法。
一、推力強度試驗
1. 有殘金 2. 無殘金或殘金面積小于 PAD 面積的 25%
2. 拉力強度試驗
一般斷點在 ? 為最佳(焊接性最佳) ，斷點在 ? 者最多(弧頸最脆弱) ，斷點在 ? 者表示機臺條件或L/F平面度不佳 ，斷點在 ? 及 ? 者，NG停機 ，斷點在 ? ? 者停機確認且推力大多數(shù)偏低
當鉤針(HOOK)放在線弧最高點時，球頸受力遠大于縫點，當鉤針放在線弧中心點時，兩側(cè)比較均勻，但因角度關(guān)系，縫點受力會略大于球頸部分，當θ1=θ2時，兩側(cè)受力均等 θ=0°時受力最大(即 F=F1 or F=F2)，θ愈小 F1orF2的垂直分力愈大，即F愈大同樣5g的拉力，LOOP愈高兩側(cè)受力愈輕。
選擇引線鍵合推拉力測試機時，博森源建議可以考慮以下幾個方面：
1. 功能- 首先要考慮測試機的功能，特別是是否有引線鍵合強度的測試的功能。此外，還可以選擇具有多功能全自動切換模組的測試機，以便進行多種測試。
2. 精度- 微小產(chǎn)品封裝測試的精度要求相對較高，因此要選擇具有高精度的測試機。確保測試機可以準確測量并記錄測試結(jié)果。
3. 智能性- 現(xiàn)代測試機通常具有智能化功能，可以自動校準、設置測試參數(shù)，并在測試完成后生成報告。這可以提高工作效率并減少操作錯誤的風險。
4. 設備穩(wěn)定性- 選擇知名品牌的測試機，確保設備的質(zhì)量和可靠性。好的品牌通常有良好的售后服務和技術(shù)支持，可以及時解決可能出現(xiàn)的問題。
5. 成本- 最后，還要考慮測試機的成本。根據(jù)預算范圍，選擇適合的測試機型號。
